MCS(Multi-layered Conductive Structure) 두께변화를 측정하기 위한PECT Probe 연구

초록

비파괴검사 기법 중 하나인 ECT(Eddy Current Testing)는 시험하고자 하는 시험체(전도체)에 와전 류를 발생시켜 결함을 평가하는 기법이다. 그러나 와전류는 도체에 침투하는 깊이의 한계가 있기 때 문에 표면 부위의 검사 외에는 적합하지 않다. 반면 PECT(Pulsed Eddy Current Testing)기법은 침 투 깊이가 깊고 여러 층의 구조로 되어있는 구조 물의 결함 또는 두께의 감육을 평가 할 수 있다 (1~2). PECT 는 Prove 의 설계에 따라 신호의 변화에 민감하다. 따라서 전자기장 해석 프로그램을 이용 해 Probe 를 최적화했다. 또한 본 연구결과를 적용 하기 위해 그림 1 과 같은 철도차량의 Under Frame 다층구조물(STS301L-STS301L-STS301L)을 이용하 여 두께 변화에 따른 신호를 분석하고 평가했다.