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MCS(Multi-layered Conductive Structure) 두께변화를 측정하기 위한 PECT Probe 연구
A Study on PECT Probe for Measurement of Thickness reduction in Multi-layered Conductive Structure
- 김웅지;
- Jianhai Zhang;
- 송성진;
- 김학준;
- 정종덕;
- 외 1명
- 제목
- MCS(Multi-layered Conductive Structure) 두께변화를 측정하기 위한 PECT Probe 연구
- 제목 (타언어)
- A Study on PECT Probe for Measurement of Thickness reduction in Multi-layered Conductive Structure
- 저자
- 김웅지; Jianhai Zhang; 송성진; 김학준; 정종덕; 이찬우
- 발행일
- 2011-05-01
- 학회명
- 2011 대한기계학회 신뢰성부문 춘계학술대회
- 개최지
- SETEC 컨벤션센터
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 20 ~ 20
- 언어
- KOR